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用植物冠层分析仪怎么测量苹果园的叶面积指数
发布时间:2020-11-10   点击次数:74次

叶面积指数是果树冠层生物学特征的一个重要参数,它可以影响果园的产量、品质以及光能的截获,在一定程度上决定了果园的生产效率。测量叶面积指数的方法有直接测量法和间接测量法,直接测量法具有破坏性,且费时费力、不能重复,操作困难难以测量叶面积的动态变化等。间接测量法分为相对生长法和光学法,应用比较广泛。 植物冠层分析仪就是属于光学法的,特点是携带方便,不需要进行额外的资料处理,可以直接给出叶面积指数值,原理是在假定植物冠层内的各元素随机分布,依据冠层间隙度或光学特性反演叶面积指数。缺点是测量所得叶面积指数有着较大的偏差。叶片的聚集效应越强,偏差越大。因此在测量时,一般需要用直接法校正。 测量时根据果园的大小。分别设置3-5个测量点,在每个测量点再分别用方框取样法和冠层分析法测量叶面积指数。方框取样法是将方框随机放在树冠上,将方框内的的叶片全部摘下,用叶面积仪测量框内的叶面积,然后根据树冠体积和栽植密度计算叶面积指数。测点的选择与冠层分析仪方法相同。冠层分析仪是分别对应测量天空5个范围的散射辐射,这5个范围的中心视天顶角分别为7°、23°、38°、53°和68°,分别与冠层上部和下部测量辐射通透密度,并根据转换模型估算叶面积指数。在每一个测点的冠层顶部测一次,下部重复测量6-10次,冠层下方的测量在同一水平面上,且在无直接辐射的条件下进行。为了避免光环境迅速的变化对测量结果的影响,选择无直接辐射的条件下进行,然后用冠层分析仪附带的App对测量的资料进一步加工以校正估值叶面积指数。 不同植园中直接测量与间接测量的对比 在密植园中,用方框取样法测得的叶面积指数范围在3.2-5.8之间,其平均值5.0±0.2;校正前用冠层分析仪估计叶面积指数在2.3-4.8之间,其平均值为3.3±0.2,冠层分析法低估了32.0%。校正后,冠层分析仪估计的叶面积指数范围在2.5-5.2之间,其平均值为4.4±0.1,比校正前提高了33.3%,且通过校正冠层分析仪的估计值减少到了12.0%。在间伐园,用方框取样法测得的叶面积
指数在2.3-4.6之间,其平均值为3.6±0.2,而校正前用冠层分析仪估计叶面积指数在1.2-3.3,其平均值为2.0±0.2,冠层分析仪低估了35.5%。与密植园相比,间伐园的叶面积指数较小,通过校正后冠层分析仪的叶面积指数在1.4-3.9之间,其平均值为2.7±0.2,比校正前提高了35.0%,通过校正后减少到了12.9%。

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